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PVEL更新2020版序列,涉及背板、LeTID和機(jī)械載荷

作者:時(shí)間:2022-03-13 02:22:59398次瀏覽

信息摘要:

PV Evolution Labs( PVEL)光伏產(chǎn)品合格計(jì)劃( PQP) 2020 版正式發(fā)布,根據(jù)TestPV 了解信息,新的PQP 序列增加了LeTID 項(xiàng)目更新了背板和機(jī)械載荷方法。PVEL 認(rèn)為調(diào)整 后的 序列直接解決了背板的耐久性,LeTID 取代了 PID ,專門針對(duì) PERC 組件,新的機(jī)械載荷更直觀地表達(dá)了 微裂紋的敏感性。 ...

  PV Evolution Labs( PVEL)光伏產(chǎn)品合格計(jì)劃( PQP) 2020 版正式發(fā)布,根據(jù)TestPV 了解信息,新的PQP 序列增加了LeTID 項(xiàng)目更新了背板和機(jī)械載荷方法。

  PVEL 認(rèn)為調(diào)整 后的 序列直接解決了背板的耐久性,LeTID 取代了 PID ,專門針對(duì) PERC 組件,新的機(jī)械載荷更直觀地表達(dá)了 微裂紋的敏感性。

  此外,熱循環(huán)的持續(xù)時(shí)間減少了25 %,從800個(gè)循環(huán)減少到600個(gè) ,可以減少所需組件樣品的總數(shù),并實(shí)施更有效的表示過(guò)程。

  對(duì)于雙面組件 ,新 PQP *少在兩種 不同的反射條件下,增加了背面性能。

  因此,PQP 比以往任何時(shí)候都更高效、更全面地響應(yīng)市場(chǎng)需求。

  圖表顯示PVEL新的光伏組件 PQP。

  

  1. 背板的耐久性

  背板的目的是在合理的時(shí)間范圍內(nèi) ** 戶外觀察到的泛黃、粉化、開裂失效模式,將多年的現(xiàn)場(chǎng)變成了加速過(guò)程。

  試驗(yàn)將紫外線照射到組件背面,持續(xù)時(shí)間足以模仿電站故障。整個(gè)組件而不是單獨(dú)背板試樣,因而可以為購(gòu)買者提供更具指導(dǎo)意義的結(jié)果。

  

  2. LeTID取代了PID

  

  LeTID*新的投資者和資產(chǎn)所有者必須避免PERC等高效組件衰減形式。LeTID到了戶外電站5%幾乎有一些比率PV電站的全部利潤(rùn)。雖然光伏組件確實(shí)會(huì)隨著時(shí)間的推移而從LeTID但恢復(fù)率取決于環(huán)境條件。

  上圖顯示了差異PV組件 BOM的 LeTID衰減率。到目前為止,PVEL觀察比例高達(dá) 6%。一些研究機(jī)構(gòu)報(bào)告說(shuō),一些 PERC組件 LeTID發(fā)生率為 10%。

  PVEL 的LeTID符合正在開發(fā)的要求IEC技術(shù)規(guī)范草案。低電流應(yīng)用于整個(gè)過(guò)程PV確保誘發(fā)的組件LeTID,而非硼氧光衰LID 。盡管使用較高的溫度會(huì)增加降解率,但它們也可能引入其他掩蓋LeTID 敏感故障機(jī)制。

  

  3. PVEL新應(yīng)力– 減少HF循環(huán)

  PQP 始終包含微裂紋敏感性。PQP 通過(guò) 動(dòng)態(tài)機(jī)械載荷(DML )序列將機(jī)械應(yīng)力與環(huán)境應(yīng)力(動(dòng)態(tài)載荷、溫度變化和水分)結(jié)合起來(lái),對(duì)組件施加應(yīng)力,揭示焊點(diǎn)疲勞和電池腐蝕的敏感性。

  雖然此前DML**次引進(jìn)是業(yè)內(nèi)*嚴(yán)格的,但隨著時(shí)間的推移,PVWL逐漸意識(shí)到它可以通過(guò)在開始時(shí)增加靜態(tài)機(jī)械載荷來(lái)改善。新的靜態(tài)機(jī)械載荷步驟模擬了導(dǎo)致電池和焊帶破裂的現(xiàn)場(chǎng)代表載荷。

  

  PVEL 認(rèn)為靜態(tài)負(fù)載容易受到影響PV 組件中產(chǎn)生微裂紋,然后動(dòng)態(tài)機(jī)械負(fù)載將進(jìn)一步施加微裂紋。TC和HF 循環(huán)會(huì)降低這些裂紋的功率輸出,就像環(huán)境應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致微裂紋降低室外發(fā)電 性能一樣。

  PVEL 通過(guò) 歷史數(shù)據(jù)分析發(fā)現(xiàn),實(shí)施載荷 后會(huì)增加 HF 試驗(yàn),從**輪開始HF 試驗(yàn)就可以發(fā)現(xiàn)故障組件,從HF 10 到HF 30沒有明顯區(qū)別。

  因此,PVEL 在新的序列中, 減少了兩輪 HF 循環(huán)。

  

  PVEL 的新序列 及其研究成果對(duì) 行業(yè)了解組件性能和 調(diào)整序列具有重要的參考價(jià)值。

  ??傳說(shuō)中的戶外太陽(yáng)能路面來(lái)了!

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